可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用国际流行的制冷控制模式，可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；

*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
 

型号
				TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W	TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W	TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W	TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W
标称内容积（升）				80	150	200	300
试验方式				气动风门切换2温室或3温室方式
性能	高温室	预热温度范围		＋60～＋200℃
		升温速率※1		＋60→＋200℃≤20分钟
	低温室	预冷温度范围		－78－0℃
		降温速率※1		＋20→－75℃≤80分钟
	试验室	温度偏差		±2℃
		温度范围		TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		温度恢复时间※2		5分钟以内
试样搁架承载能力				30kg
试样重量				7.5kg	7.5kg	10kg	10kg
内部尺寸（mm）			W	500	600	750	850
			H	400	500	500	600
			D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）※4			W	1460	1560	1710	1880
			H	1840	1940	1940	2040
			D	1500	1600	1700	1900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）